Atomic Force Microscopy

Features:
1. Integrated scanning-probe and sample-stage enhances the anti-interference ability of the spring suspension system.

2. Precision laser and probe positioning device makes probe changing and spot adjusting simple and convenient.

3. The sample-to-probe auto-approaching provides an efficient way to prevent cantilever crash.

4. The vertical sample probe approaching allows achieving precise positioning of area of interest.

5. Sample scanning area of interest may be freely selected with an high-precision/wide-range XY table.

6. Top-view CCD system warrants real-time observation and positioning of the probe on the selected sample region.

7. Modular design of electronic control system facilitates maintenance and continuous improvements.

8. The compact model 2000 may be easily transported inside an aluminum luggage.

9. The hermetic box in model 1000 provides a controlled environment.

 

Technical Parameters:

Model	BK-AFM1000
Working Modes	Contact mode and lapping mode Optional modes: Phase, Friction(LFM), Magnetic(MFM), Electrostatic(EFM)
Sample Size	Ф≤90mm, H≤20mm
Scanners Available	10*10μm, 20*20μm, 50*50μm, 100*100μm
Scanning Resolution	0.2nm in XY direction, 0.05nm in Z direction
Range of Sample Movement	±6.5mm
Step-motor Pulse Width	10±2ms
Image Sampling Points	512*512
Optical Magnification 4X	Optical resolution 2.5μm
Scan Rate 0.6Hz~4.34Hz	Scan angle 0°~360°
Scanning Control	18-bit D/A in XY direction, 16-bit D/A in Z direction
Data Sampling	14-bit A/D, double 16-bit A/D multi-channel synchronous sampling
Feedback	DSP digital feedback
Feedback Sampling Rate	64kHz
Computer interface	USB 2.0
Operating System	Windows XP/7/8/10
Supply Power	AC220V, 50/60Hz; 110V, 50/60Hz(optional)
Package Size	550*550*1150mm
Gross Weight	65kg

Atomic Force Microscopy — професійне рішення у категорії Microscope

Atomic Force Microscopy — сучасне обладнання бізнес-класу, створене для щоденної експлуатації у вимогливих умовах. Поєднання надійності, точності та довговічності робить цей продукт оптимальним вибором для компаній, які прагнуть стабільної якості процесів, прогнозованих результатів і скорочення операційних витрат. Вартість придбання — є доцільною інвестицією у розвиток та масштабування підприємства.

Чому саме Atomic Force Microscopy

• Надійність і ресурс: конструкція та матеріали промислового класу витримують інтенсивні навантаження.
• Точність і повторюваність: стабільні показники, що зменшують ризики браку і простоїв.
• Ефективність процесів: оптимізація часу персоналу та підвищення продуктивності на кожному етапі.
• Відповідність стандартам: виготовлено з урахуванням актуальних міжнародних вимог для бізнес-сегмента.
• Простота інтеграції: Atomic Force Microscopy легко вписується у наявні технологічні лінії та ІТ-інфраструктуру.

Сфери застосування Microscope

Рішення формату Microscope широко використовуються на виробництвах, у дослідницьких лабораторіях, на об’єктах будівництва, в енергетичному та агросекторах, фармацевтичній і харчовій промисловості. Впровадження Atomic Force Microscopy дає змогу підвищити продуктивність, забезпечити точність операцій і оптимізувати використання ресурсів у масштабах усього підприємства.

Ключові переваги для бізнесу

Технічні акценти

• Промислова надійність компонентів і вузлів для тривалої безвідмовної роботи.
• Стабільні параметри, що забезпечують повторюваність результатів і якість продукції.
• Енергоефективність та оптимізована вартість володіння протягом життєвого циклу.
• Сумісність із суміжним обладнанням та стандартними протоколами обміну даними.

Сервіс і підтримка

Разом із Atomic Force Microscopy ви отримуєте професійну консультацію щодо добору, введення в експлуатацію та навчання персоналу. Надаємо гарантійне й післягарантійне обслуговування, оперативну поставку витратних матеріалів та запчастин. Наша команда супроводжує проєкти від етапу закупівлі до стабільної роботи комплексу, щоб ваш бізнес отримував передбачуваний результат щодня.